LIV 即光电特性，是验证激光二极管、探测器性能的普遍的方法。在晶圆、切割、管芯、封装后老化测试过程中，为降低生产成本同时增加产品吞吐量，快速可靠的 LIV 测试系统对制造光电器件的工厂是很重要的。   根据 Laser Diode 工作原理，通常技术人员要用到电流源来驱动 LD 工作，产生光的同时用光功率计测量光功率来完成 LIV 特性测试。在不同的测试阶段例如 Chip 测试，技术人员将电流源、电压表、电流表、开关、同步触发单元、光功率计集成起来才能完成测试，同时老化测试前后需要将每个管芯或模块的测试数据进行比对，大大增加了系统的复杂程度，影响了测试精度和数据可靠性。   miniled器件LIV测试数字源表认准生产厂家武汉普赛斯仪表，详询一八一四零六六三四七六普赛斯仪表 开发的 LIV 测试系统采用 国产 S 型数字源表 为核心，结合测试软件以及第三方设备积分球探测器完成 LD 的 LIV 测试。系统结构简单、精度高、可靠性好、速度快，提高生产效率的同时也增加了测试精度和可靠性，并且降低了测试成本。   需要测试的参数： 驱动电流 I, 正向压降 Vf 光功率 Po 阈值电流 Ith 拐点 Ikink, 背光电流 Idark   需要仪器列表： S 型国产源表 积分球 可变光源 软件   高校相关Z业 微电子，材料Z业 有关 miniled器件LIV测试数字源表的更多信息请咨询一八一四零六六三四七六