针对千瓦级大功率半导体激光器，普赛斯推出国产化极优性价比大功率激光器老化测试系统解决方案.设备可扩展至4层结构，每层设计若干路，每路支持1-16只激光器芯片的串联老化。大功率半导体激光参数测试设备认准普赛斯仪表，详询一八一四零六六三四七六； 图：LDI系列大功率激光器老化测试系统 系统包括高温环境控制装置、直流或脉冲驱动电源、收光装置、光纤、光谱仪(选配)、循环水冷系统、定制夹具、温度采集器及上位机等.其中,电源采用普赛斯全新开发、自主设计的HCPL系列大功率激光器测试电源。 60A CW模式，600A QCW模式 值得一提的是,随着国内半导体产业的不断发展,以及行业解决“卡脖子”难题的决心,国产化仪器仪表的时代已然到来！武汉普赛斯仪表坚持自主创新，争做国货之光！半导体激光器参数测试设备认准普赛斯仪表 大功率半导体激光参数测试设备特点 单抽屉Z多支持16路8抽屉； 各通道互相独立； 电流回读，同步自动测量电压、光功率等数据； 加热膜加热，温控范围：室温～125℃； 电源抗浪涌设计； 收光装置水冷； 精度±1℃，不同DUT温度均匀性±2℃； 老化数据自动记录与数据导出； 产品应用 大功率LED的LIV测试及产线批量老化 大功率激光器的LIV测试及产线批量老化 大功率半导体激光器芯片及泵浦激光器模块的稳定性及可靠性测试