IRLC激光聚焦显微镜由近红外激光和扫描共聚焦组合而成的IRLC有着诸多优势。首先便是具备了对薄晶片的多层高分辨率图像的采集能力；同时，IRLC具备更深的样品穿透能力、更高的分辨率和更快的图像采集速度。 　　近红外优化光路 　　系统包含了全套Olympus近红外长工作距离物镜。这组物镜专为硅晶圆的内部结构检测而设计，采用优化的近红外光学系统，并配备的校正环以适应不同后面的硅片或玻璃表面。 　　一键双视野 　　IRLC包含一组可见光彩色成像系统和一组近红外共聚焦系统。这种搭配可对样品表面和底层（*深达800μm）同时成像。 　　由于采用了ATF6/0AA/ZAA技术（即实时快速自动聚焦技术），IRLC实现了真正意义上的实时聚焦-不管观察方式和样品表面状况如何变化，视野内持续聚焦状态。 　　IRLC激光聚焦显微镜简洁的软件界面 　　功能完善、操作简单，直观的软件界面设计旨在提高工作效率，简化检测流程。基本操控功能包括对照明、放大倍率、XYZ控制以及对焦补偿的参数调整。 载物台移动可通过软件操控、手柄操控、或者简单地点击实时画面来完成。 　　高*功能 　　线性XY “pointto point” 和 “pointto multipoint” 测量及高*图像采集选项可实现均帧、AveragedImage、Z轴序列采集、以及在两点间图像序列采集。 　　自动检测 　　集成了全电动控制和自动聚焦的IRLC，配合全自动软件可实现全自动检测流程，并可在同*程内对多个样品进行检测。 　　更多详情请咨询：https://www.chem17.com/st3598/product_25701825.html