膜厚仪是利用反射干涉的原理进行无损测量，可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率，测量迅速，操作简单，界面友好，是具X价比的膜厚测量仪设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线，凡是光滑的，透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。 主要应用： 1、光学镀层行业如：硬涂层，抗反射层等涂层厚度测量； 2、生物医学行业如：Poly-p-xylene，YL器械等领域可透光涂层膜厚的测量； 3、半导体行业如：光刻胶的厚度测量；加工膜层的厚度测量，介电层的厚度测量等； 4、液晶显示器行业如：OLED领域各种透明薄膜的厚度测量，玻璃上面涂层的厚度测量等。 便携式光学膜厚仪的应用领域极其广阔，适用于多种行业以及大学实验室等，提供低至纳米级别的薄膜厚度测量可能。 膜厚仪的功能： 1、操作过程有蜂鸣声提示； 2、两种关机方式：手动关机方式和自动关机方式； 3、电池电压指示：低电压提示； 4、微功耗设计，在待机装态不到10微安的电流； 5、采用了磁性测厚方法，可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度； 6、可采用单点校准和两点校准两种方法对仪器进行校准； 7、负数显示功能，保Z仪器零位点校准的准确性，提高测试精度。 更多产品信息来源：http://www.dymek.com.cn/ParentList-2165923.html https://www.chem17.com/st110205/list_2165923.html