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高性能电磁辐射干扰扫描自动检测系统，产品简介 WM7300/WM7400是为了在一般的办公场所以及类似的电磁环境下,靠近场电磁探头各轴向扫描放在试验台上的样品所产生近场辐射的扫描系统。 产品特点 采用专门开发的近场电磁探头测量正交+旋转4轴全方向电磁干扰（X轴·Y轴、Z轴+θ轴：旋转轴）。扫描所得结果会以频谱表以及场强的彩色分布图显示在使用者的PC 显示器上。最后会将叠加在装在主机上的CCD 照相机所摄取的样品的实体影像上，使用者得以定位准确的辐射源。 WM7300/WM7400分别具有A3或A4尺寸测量平台,最高可达6 GHz以上测试频率，全方向磁通量测定，定位干扰源位置，实现了高性能EMC电磁干扰扫描。即时没有规则形状的样品也可以地测量，测量频率范围为150KHz至3GHz～8 GHz / 150KHz。 专用软件将样品的照片和电磁干扰图的重叠，电磁干扰及产生源一目了然展现出来，并且可3D方式展现。 产品参数 型号指标 WM7300 WM7400 测量范围 W 420 mm×D 297 mm×H 200毫米（照相机摄影范围,A3尺寸） W 300 mm×D 215 mm×H 100毫米（照相机摄影范围，A4尺寸） 测量方法 激光测距，近场电磁探针扫描 近场电磁探针扫描（激光距离） 位置精度（X，Ｙ，Ｚ） ±0.01mm（单方向移动的情况） ±0.01mm（单方向移动的情况） 位置精度（θ） ±1.0° ±1.0° 频率测量范围 150kH z～3GHz（标准）/150kHz～8.0GHz（选购150K8G） 150kH z～ 3GHz（标准）/150kHz～ 8.0GHz（选购150K8G）

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